1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據近代光學的研究結果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。

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　　干涉顯微鏡6JA是用來測量精密加工零件（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器，也可以用來測量零件表面刻線，鍍層等深度。

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　　顯微鏡9J是以光切測量另件加工表面的微觀不平度。其能判國家標準GB1031-68所規定▽3-▽9級表面光潔度。（表面粗糙度12.5-0.2）對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

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　　機械比較儀適用于測量工件的幾何尺寸和形位偏差，特別是檢定工件的跳動量，并可用比較法測量長度。比較儀儀校驗臺是機械比較儀用的校驗臺架，與量塊配合使用可測定比較儀的示值變動性等性能指標。

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　　數字式立式光學計JDG-S1是一般是用標準器（如量塊）以比較法測量工件的尺寸。主要用于對五等量塊，量棒，鋼球，線形及平行平面狀精密量具和零件的外形尺寸作精密測量，本儀器頭部亦可作為一個獨立體，在科研，生產過程控制及在線測量等方面

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　　立式光學計LG-1是一采用量塊或標準零件與試件相比較的方式來測量物體外形尺寸的儀器.主要用于五等精度量塊,一級精度柱型規以及各種圓柱形、球形、線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，亦可用來控制精密零件的加工。

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　　平行光管F550是通過它取得來自無遠的光束，此光束謂之平行光。是裝校調整光學儀器的重要工具，也是光學量度儀器中的重要組成部分，配用不同的分劃板，連同測微目鏡頭，或顯微鏡系統，則可以測定透鏡組的焦距，鑒別率，及其他成像質量。

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　　雙向精密自準直儀1X6型，采用激光光學自準直原理和二維測量結構，能對機床，儀器精密導軌和精密平板的運動直線度和平直度，同時做水平、垂直二維方向的角、線性值精密測量，工作效率優于目前單向同類儀器。

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　　DS-8型測量讀數顯微鏡可廣泛應用于各級計量單位、研究所、大學試驗室、及大廠計量室和車間加工現場，對機床、儀器的精密導軌和精密平板作運動直線軸和平直度測量，以角度儀器和器具的角值精度測定。

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　　雙向精密自準直儀1X5可廣泛應用于各級計量單位、研究所、大學試驗室、及大廠計量室和車間加工現場，對機床、儀器的精密導軌和精密平板作運動直線軸和平直度測量，以角度儀器和器具的角值精度測定。

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　　VMS-0705S快捷型影像測量適用用于鐘表、儀表、PCB板、電子元器件、印刷品等行業，實用在線快速測量。為損傷、瑕庇檢測和外形提供多種解決方案

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　　H是本公司推出的中大行程的CNC型影像測量儀.它采用氣浮技術和伺服控制技術,結合本公司自主研發的QIM5008自動測量軟件.可實現高效,準確的大批量工件測量,適用于精密部件的檢測和質量控制.在機械電子.五金塑膠等行業中都得到了廣泛的應用.

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　　VMS-H系列產品是本公司推出的增強型CNC型影像測量儀器。其結構精美觀大方，操縱簡便，結合本公司自主研發的QIM5008自動測量軟件可實現高效率的批量測量

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　　VMS-H系列產品是本公司推出的增強型CNC型影像測量儀器。其結構精美觀大方，操縱簡便，結合本公司自主研發的QIM5008自動測量軟件可實現高效率的批量測量。

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　　VMS-H系列產品是本公司推出的增強型CNC型影像測量儀器。其結構精美觀大方，操縱簡便，結合本公司自主研發的QIM5008自動測量軟件可實現高效率的批量測量。

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　　該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域,在機械、電子、儀表、塑膠等行業被廣泛使用。該儀器適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域,在機械、電子、儀表、塑膠等行業被廣泛使用。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。它廣泛用于機械、儀表、電子、輕工等行業院校、研究所、計量檢定部門。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。它廣泛用于機械、儀表、電子、輕工等行業院校、研究所、計量檢定部門。

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　　CPJ系列數字元測量投影儀是光、機、電一體化的精密高校測量儀器。立式投影儀的工件影像可以是全正像也可以為倒像，測量簡易直觀，效率高。它廣泛用于機械、儀表、電子、輕工等行業院校、研究所、計量檢定部門。

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　　CPJ-4025Wφ400mm臥式投影儀是一種集光、機、電、電腦一體化的精密高效光學計量儀器。在透射光照明下，輪廓測量誤差小于0.08%。它被廣泛應用于機械、模具、工具、儀表、電子、輕工等行業，是計量室和生產車間不可缺少的一種計量檢定設備

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